Nat臋偶enie promieniowania, docieraj膮cego do detektora a rozproszonego przez mierzone medium opisuje poni偶szy wz贸r:

Ir = Inas (1-e-c蟻d)

gdzie:
Ir - nat臋偶enie promieniowania na detektorze, rozproszone przez mierzone medium,
Inas - nat臋偶enie nasycenia na detektorze odpowiadaj膮ce "niesko艅czenie grubej" warstwie mierzonego medium dla danego promieniowania,
c - sta艂a zale偶na od liczby atomowej (Z) mierzonego medium i energii promieniowania [cm2/g],
蟻 - g臋sto艣膰 materia艂u [g/cm3],
d - grubo艣膰 materia艂u [cm].

Nat臋偶enie promieniowania jest:

  • w przypadku medi贸w jednorodnych - proporcjonalna do ich g臋sto艣ci lub grubo艣ci (np. 艣cianek rur),
  • w przypadku pomiaru grubo艣ci warstwy pokry膰, gdy liczby atomowe (Z) materia艂u pokrycia i pod艂o偶a s膮:
    • Zpod艂o偶a < Zpokrycia - proporcjonalna do grubo艣ci pokrycia,
    • Zpod艂o偶a > Zpokrycia - odwrotnie proporcjonalna do grubo艣ci pokrycia.

Warunkiem uzyskania dobrego nachylenia charakterystyki (przyrostu sygna艂u), przy pomiarze pokry膰, jest jak najwi臋ksza r贸偶nica liczb atomowych materia艂贸w pod艂o偶a i pokrycia. Metod膮 t膮 mo偶na mierzy膰 tak偶e grubo艣膰 folii na walcu.
Z punktu widzenia dok艂adno艣ci pomiaru, metoda ta jest na og贸艂 o rz膮d wielko艣ci mniej dok艂adna w stosunku do metody absorpcyjnej. Ze wzgl臋du na niewielk膮 g艂臋boko艣膰 wnikania promieniowania, pomiarem obj臋ty jest przede wszystkim obj臋to艣膰 w bezpo艣redniej blisko艣ci detektora.
Wymaga ona utrzymywania sta艂ej odleg艂o艣ci uk艂adu 藕r贸d艂o-detektor od mierzonego medium.

Przyk艂adami pomiaru odbiciowego mog膮 by膰:

  • pomiar g臋sto艣ci pianki,
  • dookolny lub punktowy pomiar grubo艣ci 艣cianek rur,
  • pomiar r臋kawa folii,
  • pomiar folii na walcu,